PECVD tekniği ile büyütülmüş ince filmlerde oluşan Si, Ge ve SiGe nanokristallerin geçirgen elektron mıkroskobu (TEM), Raman, fotoışıma ve esr spektroskopisi teknikleri ile incelenmesi için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| PECVD tekniği ile büyütülmüş ince filmlerde oluşan Si, Ge ve SiGe nanokristallerin geçirgen elektron mıkroskobu (TEM), Raman, fotoışıma ve esr spektroskopisi teknikleri ile incelenmesi | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Haziran 2025 | 0 |
| Temmuz 2025 | 0 |
| Ağustos 2025 | 0 |
| Eylül 2025 | 0 |
| Ekim 2025 | 0 |
| Kasım 2025 | 0 |
| Aralık 2025 | 0 |
Dosya Ziyaretleri
| views | |
|---|---|
| 343928.pdf | 1 |
