PECVD Tekniği ile Büyütülmüş İnce Filmlerde Oluşan Ge ve SiGe Nanokristallerin Geçirgen Elektron Mikroskobu (TEM) ,Raman ve Fotoışıma Spektroskopisi Teknikleri ile İncelenmesi için istatistikler

Toplam ziyaret

views
PECVD Tekniği ile Büyütülmüş İnce Filmlerde Oluşan Ge ve SiGe Nanokristallerin Geçirgen Elektron Mikroskobu (TEM) ,Raman ve Fotoışıma Spektroskopisi Teknikleri ile İncelenmesi 0

Aylık toplam ziyaret

views
Şubat 2025 0
Mart 2025 0
Nisan 2025 0
Mayıs 2025 0
Haziran 2025 0
Temmuz 2025 0
Ağustos 2025 0