X-ışınları tek kristal difraktometresi ile kırınım şiddet verilerinin toplanması ve kristal yapı analizi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorDurlu, Tahsin Nuri
dc.contributor.authorZengin, İbrahim
dc.date.accessioned2021-01-16T19:08:27Z
dc.date.available2021-01-16T19:08:27Z
dc.date.issued2007
dc.departmentKKÜ, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı
dc.description.abstractBu tez çalışmasında, X-Işınları ve kristalografik temel bilgiler verilmiş, X-Işınları Tek Kristal Difraktometresi'ni oluşturan kısımlar detaylı olarak açıklanmış ve kırınım şiddeti verilerinin toplanmas? öncesi ve sonras? dahil olmak üzere tüm basamaklar detaylı olarak incelenmiştir. Tek kristal özelliğine sahip bir numune kristal sentezlenmiş ve tek kristal difraktometresinden sağlanan x-ışınları k?r?n?m şiddet verileri yardımı ile incelenmiştir. Bu şiddet verilerinin toplanmas? işlemleri detaylı olarak açıklanmıştır. Sentezlenmiş olan tek kristalin yapısı doğrudan yöntemleri içeren SHELXS-97 ve SHELXL-97 bilgisayar programlar? kullan?larak çözümlenmiştir. Bu yap?lara ait atomsal ve ?s?sal parametreler en küçük kareler yöntemi kullanılarak arıtılmıştır. ii Numune kristal için ; bağ uzunlukları, bağ açıları ve ısısal titreşim parametreleri hesaplanmış ve uluslararas literatürde bulunan benze? r yapılardaki değerlerle karşılaştırılmış ve elde edilen sonuçlar?n uyum içerisinde olduğu gözlemlenmiştir. Anahtar Kelimeler : Tek Kristal Yap? Analizi, X-Işınları Veri Toplama , SHELXS-97, SHELXL 97en_US
dc.description.abstractIn this thesis, detailed information about X-ray and crystallographic basis have been represented. The parts which constitute Single Crystal X-ray Diffractometer have been explained and all the steps in data collection including not only before measurement but also after measurement have been investigated in detailed. A single crystal has been synthesized and examined by using the X-ray diffraction intensities obtained from single x-ray diffractometer. The processes in collection of diffraction intensities have been explained in detailed. The structure of synthesized single crystal has been solved by using computer programs SHELXS-97 and SHELXL-97 including direct methods. Atomic and thermal parameters of these structures have been refined by using Least-Square method. iv For the sample crystal structure, calculated and obtained values of bond lengths, bond angles and dihedral angles have been compared to the values of the similar structures in the literature and it has been confirmed that these values are compatible and in a good agreement with the literature. Key Words: Single Crystal Structure Analysis, X-Ray Data Collection, SHELXS-97 and SHELXL-97en_US
dc.identifier.endpage143en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.uri
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12587/16608
dc.identifier.yoktezid202022
dc.language.isotr
dc.publisherKırıkkale Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleX-ışınları tek kristal difraktometresi ile kırınım şiddet verilerinin toplanması ve kristal yapı analizien_US
dc.title.alternativeCollection of diffraction intensities with X-ray single crystal diffractometer and analysis of crystal structureen_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim
İsim:
202022.pdf
Boyut:
1.6 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Tam Metin/Full Text
İndir

Koleksiyon

Fen Bilimleri Enstitüsü Tez Koleksiyonu