Çok katlı ince filmlerde Si,Ge,SiGe nanokristallerin elde edilmesi ve geçirgen elektron mikroskobu(TEM) ile incelenmesi
[ X ]
Tarih
2011
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Kırıkkale
Kırıkkale Üniversitesi
Kırıkkale Üniversitesi
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
…
Açıklama
Proje -- Kırıkale Üniversitesi
2008/31
87258
2008/31
87258
Anahtar Kelimeler
PECVD, Si ve Ge nanokristaller, TEM, Raman spektroskopisi
