Çok katlı ince filmlerde Si,Ge,SiGe nanokristallerin elde edilmesi ve geçirgen elektron mikroskobu(TEM) ile incelenmesi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.otherAğan, Sedat
dc.date.accessioned2020-08-31T21:08:06Z
dc.date.available2020-08-31T21:08:06Z
dc.date.issued2011
dc.departmentKırıkkale Üniversitesi, Rektörlük, Projeler
dc.descriptionProje -- Kırıkale Üniversitesi
dc.description2008/31
dc.description87258
dc.description.abstract…en_US
dc.format35 s.en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12587/9574
dc.language.isotr
dc.publisherKırıkkaleen_US
dc.publisherKırıkkale Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryProjeen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectPECVDen_US
dc.subjectSi ve Ge nanokristalleren_US
dc.subjectTEMen_US
dc.subjectRaman spektroskopisien_US
dc.subject.otherP/X 1518en_US
dc.titleÇok katlı ince filmlerde Si,Ge,SiGe nanokristallerin elde edilmesi ve geçirgen elektron mikroskobu(TEM) ile incelenmesien_US
dc.typeProject

Dosyalar

Koleksiyon

KKÜ Projeleri